Kombinované merače a platformy

Veľmi presné a rýchle meracie prístroje pre meranie parametrov optických sieťových komponentov. Najrýchlejšie meranie vložného útlmu (IL) a útlmu spätného odrazu (RL). Dynamický rozsah 70 dB v jednom skenovaní s rýchlosťou 100 nm/s a rozlíšením 1 pm.

Produkty

EXFO Integrovaný kvalifikační systém — IQS-600

Široká škála testovacích nástrojů pro hodnocení systémů a transceiverů
Sdílení mezi více uživateli pro minimalizaci nákladů
Snadné flexibilní automatizace a vzdálený přístup přes Ethernet
Možnost RAID 1 pro lepší výkon a spolehlivost dat

Zobraziť detail

JGR Optics Kompaktný Mainframe MS05B

Modulárny mainframe
Podporuje všetky moduly MS12001
Kompatibilný s Windows 8, 7 a XP

Zobraziť detail

JGR Optics Mainframe MS08B

Modulárny mainframe
Podporuje všetky moduly MS12001
Kompatibilný s Windows 7, 8 a XP

Zobraziť detail

EXFO CT440 Tester pasívnych optických komponentov

Rozsah vlnových dĺžok: 1240 - 1680 nm
Až 4 detekčné porty
Použitie až 4 laserov s kontinuálnym preladením
Rozlíšenie: od 1 do 250 pm
Presnosť vlnovej dĺžky: ±5 pm

Zobraziť detail

JGR WCS Testovací systém

Vlnový rozsah: 1260 až 1650
Až 32 kanálů na šasi a 256 na systém
Testování CWDM, filtrů, FTTH/PON splitteru, atenuátoru

Zobraziť detail

EXFO platforma pro testování komponent CTP10

Nejrychlejší měření vložného útlumu (IL) a útlumu zpětného odrazu (RL) v odvětví
Dynamický rozsah 70 dB v jednom průchodu a provoz na 1000 nm/s
Podporuje až 10 modulů s funkcí hot-swap
Až 60 detektorů, každý pracující na 1 Msps
Výkonné a intuitivní grafické rozhraní pro snadnou konfiguraci testů a analýzu měření

Zobraziť detail