Katalóg Produktov
Menu
Katalog produktú

» Laboratoře a výroba » Testování PIC (Photonic Integrated Circuits)

EXFO OPAL-SD Single-die semi-automated probe station
  • Špičkové řešení pro testování a charakterizaci fotonických integrovaných obvodů - PIC

  • Flexibilní design s polohovatelnými optickými a elektrickými sondami (RF/DC heads)

  • Příprava a automatické zarovnání a kontrola přístroje se SW PILOT, včetně data managementu

  • Různé možnosti ovládání optické hlavy - až 6 motorizovaných os pro připojení optických vláken

EXFO OPAL-MD - Multi-die automated test station
  • Špičkové řešení pro testování a charakterizaci fotonických integrovaných obvodů - PIC
  • Charakterizace a měření více PIC v jednom kroku
  • Flexibilní design s polohovatelnými optickými a elektrickými sondami (RF/DC heads)
  • Příprava a automatické zarovnání a kontrola přístroje se SW PILOT, včetně data managementu
To Top