Kombinovaná měřidla a platformy

Velmi přesné a rychlé měřicí přístroje pro měření parametrů optických síťových komponent. Nejrychlejší měření vložného útlumu (IL) a útlumu zpětného odrazu (RL). Dynamický rozsah 70 dB v jednom skenování s rychlostí 100 nm/s a rozlišením 1 pm.

Produkty

EXFO Integrovaný kvalifikační systém — IQS-600

Široká škála testovacích nástrojov pre hodnotenie systémov a transceiverov
Zdielanie medzi víacej uživatelmi pre minimalizaciu nákladov
Jednoduchá flexibilná automatizacia a vzdiálený přístup cez Ethernet
Možnost RAID 1 pre lepší výkon a spolahlivosť dát

Zobrazit detail

JGR Optics Kompaktní Mainframe MS05B

Modulární mainframe
Podporuje všechny moduly MS12001
Kompatibilní s Windows 8, 7 a XP

Zobrazit detail

JGR Optics Mainframe MS08B

Modulární mainframe
Podporuje všechny moduly MS12001
Kompatibilní s Windows 7, 8 a XP

Zobrazit detail

EXFO CT440 Tester pasivních optických komponent

Rozsah vlnových délek: 1240 - 1680 nm
Až 4 detekční porty
Použití až 4 laserů s kontinuálním přeladěním
Rozlišení: od 1 do 250 pm
Přesnost vlnové délky: ±5 pm

Zobrazit detail

JGR WCS Testovací systém

Vlnový rozsah: 1260 až 1650
Až 32 kanálů na šasi a 256 na systém
Testování CWDM, filtrů, FTTH/PON splitteru, atenuátoru

Zobrazit detail

EXFO platforma pro testování komponent CTP10

Nejrychlejší měření vložného útlumu (IL) a útlumu zpětného odrazu (RL)
Dynamický rozsah 70 dB v jednom skenování s rychlostí 100 nm/s a rozlišením 1 pm
Podporuje až 10 měřicích modulů s funkcí výměny za běhu přístroje (hot-swap)
Až 50 detektorů, každý pracující s rychlostí 1 Msps
Výkonné a intuitivní grafické rozhraní pro snadnou konfiguraci testů a analýzu měření

Zobrazit detail